산업통상자원부 국가기술표준원은 22~24일 제주에서 열리는 반도체 소자(IEC TC47) 분야 국제표준회의에서 한국이 차세대 디스플레이의 핵심 부품으로 평가되는 마이크로 발광다이오드(LED) 소자 검사장비 기술 표준을 제안한다고 22일 밝혔다. 이번 회의에는 한국 중국 일본 독일 4개국 50여명의 반도체 전문가가 참가했다.

마이크로 LED는 무기발광 소자로, 탄소화합물 기반인 유기발광다이오드(OLED)보다 수명이 길고 화면에 잔상이 남는 번인 현상이 없어 차세대 디스플레이로 꼽힌다. 마이크로 LED 디스플레이는 머리카락 굵기보다 가는 1∼20마이크로미터(㎛) 크기의 LED 소자를 수천만개에서 수억개를 붙여 제작해 균일한 품질의 LED 소자를 확보하는 것이 중요하다.

우리나라는 인공지능(AI)용 뉴로모픽 반도체, 시스템반도체 공정 부품 검사장비 등의 국제표준 개발을 주도하고 있다. 이번 회의에서는 디스플레이용 마이크로 LED 소자 품질평가 방법을 신규로 제안했다.

제안 표준은 광발광 측정법을 활용한 비접촉식 마이크로 LED 소자 품질 검사 방법이다. 광발광 측정법은 LED 소자가 레이저 등에서 빛에너지를 받으면 마치 전원이 연결된 것처럼 빛을 내는데, 이 빛을 분석하여 검사하는 비접촉식 방법이다.

오광해 국표원 표준정책국장은 “마이크로 LED 소자를 활용한 차세대 디스플레이는 현재 본격 상용화를 앞두고 있어 큰 성장이 기대되는 분야”라며 “우리나라 기업의 장비 기술이 국제표준이 돼 세계 기준이 될 수 있도록 지원하겠다”고 말했다.